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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：SCS770715靜電事件探測儀EM EYE
產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-11-21
產(chǎn)品簡介：
SCS770715靜電事件探測儀EM EYE英文名稱：EM Eye ESD Event Detection Meter探測靜電放電次數(shù)和放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM模式
產(chǎn)品特性Product characteristics
“精"——上海市先JIN企業(yè)!
“專"——專注工業(yè)測試十六年!
“特"——德國萊茵TUV認證供應(yīng)商!
“新"——注冊資本實繳壹仟萬元!實繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風險能力強!
SCS770715靜電事件探測儀EM EYE
英文名稱：EM Eye ESD Event Detection Meter
探測靜電放電次數(shù)和放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM模式
產(chǎn)品型號：770715
制造商：Desco Industries Inc（SCS 品牌）
770715：包含以下物品
770715探測儀（含傳感器模塊和CTS001天線）
CTC113-6FT：遠端天線，常溫型，纜線長度6英尺
SD內(nèi)存卡
SD卡托
電源適配器/電池充電器
手提箱
選配
CTC115-6FT：遠端天線，高溫型，纜線長度6英尺
探測靜電放電事件的次數(shù)和放電電壓值
具有分辨信號的能力，區(qū)分EMI和ESD信號，剔除非ESD相關(guān)事件
可設(shè)置探測距離1.3～38.1cm
可選擇CDM、HBM、MM放電模型
彩色觸摸屏操作方便
數(shù)據(jù)保存在SD卡，可以轉(zhuǎn)換為表單格式（EXCEL）
！ 注意!
不要使用任何工具裝卸探測模塊和天線，徒手即可，裝卸時動作輕柔
裝卸天線時，不要過度用力擰緊 SMA 端子
在開機狀態(tài)下不要拔插探測模塊和天線，也不要拔插 SD 卡
使用儀器時要小心輕放，避免跌落
天線不要觸碰到帶電體
避免硬物劃傷屏幕
初次使用時，建議對電池進行 3 次全充-放電循環(huán)，以延長電池壽命
電池充滿時間為 2 小時左右，不要長時間過充
充電的時候，確保在開機狀態(tài)下充電
不要使用第三方電源適配器，有可能造成儀器損壞
1. 產(chǎn)品描述
SCS770715靜電事件探測儀EM EYE是一款靜電事件探測儀，可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器根據(jù)靜電放電（ESD）信號的特征波形，區(qū)分靜電放電和空間其他電磁信號，可剔除背景噪音或其他干擾信號。用戶可以選擇 CDM、HBM、MM 靜電放電模型，儀器根據(jù)放電模型、探測距離和信號強度計算出各個模型的放電電壓。
1 主機身
2 探測模塊
3 CTS001 定向天線
4 SD 內(nèi)存卡（已插入主機身）
5 SD 卡托
6 CTC113-6FT 遠端全向天線，1.8 米長纜線
7 電源適配器（4 款轉(zhuǎn)換頭）
8 CTC115-6FT 遠端全向天線，抗高溫，1.8 米長纜線
在關(guān)機狀態(tài)下
拔插 SD 卡
CTS001 天線
可單獨更換
2. 部件功能及安裝
CTS001 為定向天線，只探測天線正前方的信號
CTC113-6FT 為全向天線，可以探測到 360 度任何方向的信號，需要探測狹窄空間，可采用該天線
如果需要探測高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購 CTC115-6FT 高溫天線
儀器默認設(shè)置采用 CTS001 定向天線，如果采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 天線，需要在儀器設(shè)置中相應(yīng)選擇
正常情況下無需拔插探測模塊，只有儀器維修或升級更換探測模塊時才需要拔插
如果發(fā)生死機或其他故障，重新開/關(guān)機一次，絕大多數(shù)故障可以消除定位插頭
CTC113-6FT
遠端天線
線路端子
定位插頭
CTS001
定向天線
探測模塊
主機身
儀器底部
電源插孔 開/關(guān)機鍵 耳機插孔
SD 卡槽
在嘈雜環(huán)境，可以用耳機，更容易聽清楚報警聲
儀器不插入 SD 卡也可以正常測試，但不會保存數(shù)據(jù)
警告！拔插探測模塊和天線一定要在關(guān)機狀態(tài)下才可進行拔插探測模塊，無需任何工具插入探測模塊時，左右定位插頭對準主機身的定位孔，中間的線路端子對準主機身中間的線路口
3. 儀器操作
開機：開/關(guān)機鍵撥到左邊
關(guān)機：開/關(guān)機鍵撥到右邊
1 10 個弧形圓點：示意放電強度，點擊可設(shè)置報警閾值
2 閃電/三角符號：點擊可切換符號
閃電符號，只顯示靜電放電事件（ESD）
三角符號，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）
3 探測距離：天線到被測試物/測試點的距離，點擊可設(shè)置距離
4 聲音符號：點擊該符號可選擇報警聲類型及音量。鈴鐺符號為“叮鈴"聲，只有一個音量，不能調(diào)節(jié)。
點擊切換成喇叭符號，這時的儀器發(fā)出類似收音機調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號強度的大小變化。繼續(xù)點擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)×，表示靜音。
5 C 鍵：點擊該鍵清零屏幕顯示的讀數(shù)
6 Menu/F 鍵：點擊進入儀器硬件設(shè)置界面
7 Hold 鍵：點擊后鎖定讀數(shù)（讀數(shù)上方顯示 Hold）；繼續(xù)點擊進入最大值模式（讀數(shù)上方顯示 Max），在
該模式下，屏幕顯示探測到的最大讀數(shù)；再次點擊，退回到正常模式
8 時間：顯示當前時間
9 電池符號：示意電量狀況（全黑 100%電量，半黑 50%電量，全白表示<1 小時電量，×表示電量耗盡，藍色表示正在充電）。點擊電池符號可設(shè)置日期和時間
10 SD 卡符號：點擊該符號，進入查看界面，可以查看測試記錄
11 放電次數(shù)：該次數(shù)是累計次數(shù)，點擊 C 鍵可清零
12 放電模型：點擊可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（原始信號）
13 放電電壓讀數(shù)：該儀器測試速度是皮秒級別的，顯示速度不可能這么快，所以屏幕以每秒 1 個讀數(shù)的速度來顯示，顯示的這個讀數(shù)是該秒內(nèi)所測到的所有值中最大的那個讀數(shù)（導出數(shù)據(jù)可以查看其他讀數(shù)）
3.1. 開機界面
儀器開機先顯示儀器固件號，如下所示：
稍后，進入主界面。如果未插入 SD 卡或不能識別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：
無 SD 卡也可以正常使用該儀器，但測試數(shù)據(jù)不會被保存。點擊棕色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進入主界面。
注意！拔插 SD 卡時，儀器處于關(guān)機狀態(tài)。
3.2. 儀器硬件設(shè)置
點擊 Menu/F 鍵進入硬件設(shè)置界面，顯示如下：
第一行顯示儀器主板編號
第二行為屏幕亮度，點擊圓盤的?/?增加或降低亮度，默認 50%（可設(shè)置 10%~100%的亮度）
點擊▲/▼滾動到第三行“Dim time"項，設(shè)置自動關(guān)機時間，默認 5 分鐘（可設(shè)置 1~9 分鐘），點擊?/?
改變時間，一直點擊?，選擇 disabled，表示不啟用自動關(guān)機功能
點擊▲/▼滾動到第四行“Local antenna"項，點擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna
Local antenna：采用 CTS001 定向天線
Remote antenna：采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 遠端全向天線
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機界面
Display Module
KWH028 Q27-F02
Firmware Rev. 3.08
Desco Industries
2009-2024
WARNING:
No memory card.
You can add it any time.
Click here to close the
Window.
Hardware Setup
S/N 16065 CRC=00A7A9C9
Brightness: 50%
Dim time: 5 min
Local antenna
硬件設(shè)置界面
主板編號
屏幕亮度
自動關(guān)機
選擇天線
3.3. 設(shè)置日期和時間
點擊電池符號進入日期和時間設(shè)置界面，顯示如下：
第一行設(shè)置時間，點擊圓盤▲/▼改變數(shù)值，點擊?/?移動光標向前或向后
第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（02/10/25 表示 2025 年 2 月 10 日）
第三行選擇 12/24 小時制，點擊▲/▼選擇 12H 或 24H
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機界面
4. 測試靜電放電（ESD）事件
4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型
儀器天線接收到放電產(chǎn)生的電磁波信號，采用專有算法，根據(jù)探測距離、信號強度和放電模型計算出放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。
探測距離：
天線距離被測試物/測試點的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）
注意：實際測試時，天線距離被測試物/測試點應(yīng)該為所設(shè)置的距離。
放電模型：
CDM：器件本身帶有靜電，接觸到其他導體時發(fā)生靜電放電
MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到器件，發(fā)生靜電放電
HBM：帶靜電的人體接觸到器件，發(fā)生靜電放電
Raw Input：天線所獲得的原始信號，該讀數(shù)就是用于計算放電電壓的，該模式用于儀器校準
備注：在探測時，根據(jù)實際場景，選擇其中一個放電模型，即以此模型來計算放電電壓。實際工況可能是幾種模型的混合放電，或者無法判斷是那種放電模型時，建議選擇 CDM 模型，因為 CDM 放電造成的損壞最大。
Time-Date Setup
Time: 14:06
Date: 02/10/25
Mode: 24 H
設(shè)置日期和時間
點擊屏幕的距離或放電模型方框，進入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：
點擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點擊 1 次遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點擊 1 次遞增 1 英寸。
點擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機界面
4.2. 報警閾值設(shè)置
點擊弧形圓點，進入設(shè)置界面。（備注：儀器 SD 卡只記錄超過閾值的靜電放電事件）
點擊圓盤?/?設(shè)置報警閾值，范圍 000~990V，0~10V 按 1V 增幅設(shè)置，10~990V 按 10V 增幅設(shè)置
提示：一旦設(shè)置了報警閾值，低于閾值的讀數(shù)圓點顯示綠色，只有高于閾值的讀數(shù)顯示紅色圓點。儀器 SD 卡僅保存高于閾值的讀數(shù)。選擇 000，所有讀數(shù)都高于閾值，所有讀數(shù)都保存在 SD 卡上
如果選擇了“Raw Input"測試模式，可以選擇 1~1500mV
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機界面
ESD Events
Distance: 4.0"10.2cm
Model: CDM
ESD Events
000 V
設(shè)置距離和模型
設(shè)置報警閾值
按以上設(shè)置完成后，即可開始測試。測試時屏幕出現(xiàn)閃電符號，表示開啟了信號屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號，只顯示靜電放電信號。點擊該符號切換到全信號模式，這時出現(xiàn)三角形符號，表示儀器顯示所有探測到的信號，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號。
測試時，電壓讀數(shù)為實時的放電電壓值（每秒中最大的值），數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)，最高可以累計32767 次放電次數(shù)，點擊 C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計。
4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進行靜電放電事件風險評估流程
備注：
首先確定靜電敏感器件是否有導體部位接觸或非常接近導電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒有，通常不會有靜電放電風險，無需進一步進行風險評估。
空載測試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象
放入靜電敏感器件后，如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象，表示探測到的是干擾信號/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評估結(jié)束-低風險
如果探測到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評估風險，如果放電電壓值超過器件所列明的閥值，采取措施消除危險，例如采取接地、離子中和等方式
采取消除風險的措施后，再次進行評估
1 是否和靜電敏感器件直接
接觸或距離非常近
評估結(jié)束-低風險
2 進行空載測試
3 把靜電敏感器件放入后測試，對比測試結(jié)果
4 是否測到更多的靜電放電事件？
5 評估結(jié)束-低風險
否
否
6 評估風險程度
消除風險
按 2~5 步驟再次評估
5. 數(shù)據(jù)查看和處理
5.1. 安裝 SD 卡
1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，白色面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機的情況下拔插 SD 卡。
2）插好卡后，儀器開機，儀器會對新卡或空卡進行初始化。然后進入待機界面，在屏幕右中可以看見 SD卡圖標，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標或有紅叉，表示該卡不兼容。
3）超過報警閾值的測試記錄會保存在 SD 卡上。
在主界面，點擊 SD 卡符號，進入查看界面。點擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動查看。
5.2. 數(shù)據(jù)處理
向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進行安裝，最后點擊 Close完成。
把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托（白色面向下插入 microSD 卡槽），然后把卡托插入電腦 USB 口
1) 打開安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標）
2) 點擊文件夾符號，選擇 SD 卡上的文件 ESD3M0003.esd
3) 打開后可以看見所有的測試記錄，每條記錄表示一個時間點的測試記錄。例如下圖第一行（00001 條），
表示 2025 年 2 月 25 日 10 點 09 分 18 秒開始探測到 45 個 ESD 事件發(fā)生（報警閾值為 810V）
每個記錄編號是指在該時間點開始探測到的所有 ESD 事件，以上 00001 為例，是 10 點 09 分 18秒開始探測到總共 45 個 ESD 事件（僅記錄大于閾值 810V 的 ESD 事件）
保存每條測試記錄后，用 EXCEL 打開可以看到該條記錄內(nèi)的所有 ESD 事件
點擊任一條測試記錄，然后點擊 File > Save 保存，直接保存.CSV 文件格式即可點擊這里選擇這個
記錄編號 報警次數(shù) 日期 時間 測試模型 測試距離 天線類型 閾值
4) 用 EXCEL 打開保存的文件可以顯示詳細的測試數(shù)據(jù)（以 00001 條記錄為例）
A 欄（Number）：ESD 事件計數(shù)（總共 45 個 ESD 事件）
B 欄（Time）：ESD 事件發(fā)生的時間
C 欄（Value V）：ESD 事件放電電壓（單位 V）
備注：如果 SD 卡滿，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。重新把空卡插入儀器后，儀器會自動初始化。
6. 故障信息
屏幕提示 解決方法
ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.
未裝上探測模塊就開機。先關(guān)機，裝上探測模塊后再開機使用。
ERROR: Card was removed. Data may be lost and card could be damaged.
Click here to close the window.
在開機狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會導致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點擊關(guān)閉該提示，關(guān)機后插回 SD 卡。
WARNING: No memory card. You can add it at any time.
Click here to close the window.
儀器未插入 SD 卡，可以在任何時候插入 SD 卡。點擊關(guān)閉該提示。
PREPARING CARD FOR RECORDING!!!
DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。
WARNING: This card contains the data.
Remove the card or click here to erase the data.
該 SD 卡含有儀器無法識別的數(shù)據(jù)，取出 SD 卡或者點擊這里刪除數(shù)據(jù)。
ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.
Click here to close the window.
SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。
ERROR!!! STACK OVERFLOWED.
Click here to turn device off.
出現(xiàn)嚴重故障。需要重置儀器，如果問題未解決，必需返回原廠維修。
報警次數(shù) 報警閾值
測試模型
測試距離
起始時間 天線類型
備注：當儀器出現(xiàn)死屏或其他故障時，重新開關(guān)機，通常能解決故障。
備注：儀器長期閑置，電池可能耗盡電量。這時插上電源適配器通電一段時間，然后開機，電池重新被激活，儀器開始充電。
7. 儀器校準
770715 測試靜電放電電壓，測試方法是獲取放電信號的強度然后采用專有算法計算出放電電壓值。
原廠校準書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號，校準方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號，然后驗證儀器接收到的信號強度（dBμV）是否準確。
疑問一：如何在第三方進行校準？
答：不能在第三方機構(gòu)進行校準，因為原廠對儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均BU公開。第三方無法對儀器能否接收正確放電信號進行驗證。即使第三方可以驗證儀器是否準確獲取放電信號，后續(xù)也無法根據(jù)信號強度計算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，BU公開。
所以儀器必需返回原廠進行校準，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進行校準。
疑問二：該儀器測試放電電壓，但為什么沒有測試精度參數(shù)？
答：靜電放電電壓和實際物體的電容有關(guān)，儀器無法事先知道被測物體的電容，只能采取一個經(jīng)驗值（根據(jù)實驗取一個能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗值）來計算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實際放電電壓值，而沒有一個定量的測試精度。
疑問三：如何直觀地驗證儀器的測試準確度？
答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過程，儀器實測讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗證。
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